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德國ElektroPhysik QuintSonic 7 薄膜厚度測量案例
更新時間:2024-02-20 點擊次數(shù):491
  

        德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司*新推出的QuintSonic 7超聲波涂層測厚也叫分層膜厚儀,利用超聲波反射原理可以無損測量多層涂層厚度的儀器,不同于其他磁性測厚儀和電渦流測厚儀,該款儀器不僅可以測量金屬基材上的涂層厚度,也可以測量非金屬基材上的多層膜厚。

 

        基于超聲波反射原理,內(nèi)置智能傳感器的QuintSonic 7探頭作為發(fā)射器和接收器,同時對被測位置發(fā)射超聲波脈沖。當(dāng)超聲波束穿過兩層之間的邊界或到達基底時,部分超聲能量被反射,通過獲取反射波確定層厚。

        超聲波涂層厚度測量的另一個挑戰(zhàn)是顯示出非常相似材料特性的分層。為了提供清晰的回波信號,它們的阻抗值變化不大。QuintSonic 7的創(chuàng)新剪裁功能“全局剪裁”、“可變剪裁”和“分區(qū)剪裁”為這一問題提供了一種解決方案,從而也可以清晰地分辨出非常微弱的回聲。因此,即使是非常困難的任務(wù)設(shè)置,也能以*大的可靠性和精確性來解決。

      

        上圖為多層薄膜厚度的測試案例,通過QuintSonic 7 超聲波涂層測厚儀能夠準(zhǔn)確測出薄膜涂層及基材的各層厚度和總厚度,通過觀察聲波曲線確定分層(回波)明顯,儀器可單獨設(shè)定每種樣品的聲速參數(shù)。

 

測量結(jié)果:

第一層

第二層

總厚

8.9 μm

84.9 μm

93.8 μm

       

        薄膜基材84.9μm,基材上涂有8.9μm的涂層已達到防靜電防水的效果,使用這款測厚儀可輕松測量多層薄膜厚度,圖中容易看出各層的超聲波反射及回波情況,定義好聲速及波形,將此參數(shù)輸入主機中,可實現(xiàn)主機直接測量并自動計算并存儲每個涂層的厚度數(shù)據(jù),無需連接電腦使用,主機和探頭總重量不到500g,操作簡便。測量后可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入電腦可自動生成統(tǒng)計報告,統(tǒng)計報告中保護各種測量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

        與此同時,QuintSonic 7在汽車工業(yè)、飛機制造或其他任何對涂裝精度要求很高的產(chǎn)業(yè)都有著廣泛的應(yīng)用。

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